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產(chǎn)品分類
Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
三箱式冷熱沖擊試驗箱 TSD系列適用于電子電工、航空航天、汽車摩托車、科研單位、高等院校、各種電子元氣件等相關產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫、恒溫環(huán)境下貯存和使用時的適應性試驗，檢測其各性能指標。
產(chǎn)品型號：TSD-50F-3P廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-12-23訪 問 量：263
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聯(lián)系電話：0769-81085056
三箱式冷熱沖擊試驗箱 TSD系列
特點:
采用圓弧造型及霧面線條處理，高質(zhì)感外觀，并采用平面無反作用把手，操作容易，可靠
全封閉結(jié)構(gòu)，采用強力循環(huán)馬達，低噪音冷凍裝置:
附有防震臺墊，使得機臺在運轉(zhuǎn)過程中能保持安靜及穩(wěn)定;
具有被測試件通電測試功能(負載測試);
采用飛利浦照明窗口燈、內(nèi)詈耐高溫除霧裝置，便于觀察箱內(nèi)產(chǎn)品試驗情況
具有多種保護裝置，性能可靠。
三箱式冷熱沖擊試驗箱 TSD系列
標準:
GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫設備》的要求,
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法GB2423.2-89(IEC68-2-2);
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法:
GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗
GB/T5170.2-96《溫度試驗設備》
GB10592-93《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》
C
CODE
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